CAPRES A/S COPENGHAGEN APPLIED RESEARCH
CAPRES社はデンマーク工科大学よりスピンオフした会社であり、1999年に設立されました。
同社は従来の1000分の1のサイズのマイクロ4ポイントプローブの開発に着手し、平成12年と13年、文科省の国際共同プロジェクトとして、東京大学大学院理学系研究科物理学教室、長谷川修司助教授の研究グループと共同研究を行っています。同研究の成果は表面科学23号などにおいて共著で発表されました(長谷川修司先生には現在装置販売に関する弊社技術アドバイザーをしていただいております)。
同社が東大と共同開発したマイクロ4ポイント及び12ポイントプローブを利用したスキャニングコンダクティビティーマイクロスコープ(走査型伝導度顕微鏡)は、次の3つの分野におけるR&D,クオリティーコントロールに役立つ新しい技術です。
| R&D,クオリティーコントロールに役立つ3つの分野 |
| ・ |
現在世界中が注目するMRAM(Magnetic Random Access Memory)をはじめとする、次世代磁気メモリー、磁気ヘッドの開発やクオリティーコントロール。
|
| ・ |
ナノメータースケールの構造・領域の伝導度測定が可能であり、ナノテクノロジーにおける機能性薄膜の開発。
|
| ・ |
液晶、半導体製造工程における導電性検査。微細加工後の不均一性の測定。又、デバイス稼動中(磁場印加中など)であっても、測定が可能であるため、製造工程における用途も広い。
|
|
 |

※Flashムービーが表示されない場合はこちらで プラグインを
インストールして下さい。 |