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CAPRES A/S COPENGHAGEN APPLIED RESEARCH
CAPRES社はデンマーク工科大学よりスピンオフした会社であり、1999年に設立されました。
同社は従来の1000分の1のサイズのマイクロ4ポイントプローブの開発に着手し、平成12年と13年、文科省の国際共同プロジェクトとして、東京大学大学院理学系研究科物理学教室、長谷川修司助教授の研究グループと共同研究を行っています。同研究の成果は表面科学23号などにおいて共著で発表されました(長谷川修司先生には現在装置販売に関する弊社技術アドバイザーをしていただいております)。 同社が東大と共同開発したマイクロ4ポイント及び12ポイントプローブを利用したスキャニングコンダクティビティーマイクロスコープ(走査型伝導度顕微鏡)は、次の3つの分野におけるR&D,クオリティーコントロールに役立つ新しい技術です。

R&D,クオリティーコントロールに役立つ3つの分野
現在世界中が注目するMRAM(Magnetic Random Access Memory)をはじめとする、次世代磁気メモリー、磁気ヘッドの開発やクオリティーコントロール。
ナノメータースケールの構造・領域の伝導度測定が可能であり、ナノテクノロジーにおける機能性薄膜の開発。
液晶、半導体製造工程における導電性検査。微細加工後の不均一性の測定。又、デバイス稼動中(磁場印加中など)であっても、測定が可能であるため、製造工程における用途も広い。

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アルテック株式会社
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担当: 松浦 matsuura@altech.co.jp

関連リンク
アルテック株式会社サイト
http://www.altech.co.jp/

CAPRES A/S Denmarkサイト
http://www.capres.com/

東京大学長谷川研究室サイト
http://www-surface.phys.s.u-tokyo.ac.jp/top_j.html


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